发明名称 两个半自由度表面缺陷标识装置
摘要 本实用新型涉及一种能标记和识别表面缺陷的位置、大小、形状和深度的两个半自由度表面缺陷标识装置。由2自由度的臂、半自由度的操作手柄、电控装置、基座和导轨组成,其中臂为平面两杆结构,一端通过平面回转的铰接机构安装在基座上,另一端设有操作手柄,所述操作手柄与电控装置电连接,所述基座上设有与承载待标识工件的移动托架定位用凹槽,供托架移动用导轨铺设于地面。它价格低廉,不受环境影响,可靠性和抗干扰性高。
申请公布号 CN2395837Y 申请公布日期 2000.09.13
申请号 CN99250365.5 申请日期 1999.11.19
申请人 中国科学院沈阳自动化研究所 发明人 戴炬
分类号 B23H7/00 主分类号 B23H7/00
代理机构 中国科学院沈阳专利事务所 代理人 闵宪智;周秀梅
主权项 1.一种两个半自由度表面缺陷标识装置,其特征在于:由2自由度的臂(1)、半自由度的操作手柄(2)、电控装置(3)、基座(4)和导轨(5)组成,其中臂(1)为平面两杆结构,一端通过平面回转的铰接机构(11)安装在基座(4)上,另一端设有操作手柄(2),所述操作手柄与电控装置电连接,所述基座(4)上设有与承载待标识工件的移动托架定位用凹槽(41),供托架移动用导轨(5)铺设于地面。
地址 110003辽宁省沈阳市和平区三好街90号