发明名称 半导体元件互连器件及其制造方法
摘要 一种制造半导体元件互连器件的方法,该器件连接在半导体衬底上形成的各杂质扩散区,每一杂质扩散区有不同的电导电率。该方法包括,在半导体衬底上形成第1导电类型的阱和第2导电类型的阱,在第2导电类型阱形成不相互接触的第1导电类型杂质扩散区,在第1导电类型阱形成不相互接触的第2导电类型杂质扩散区,在最终结构上面形成绝缘膜,选择地除掉绝缘膜,由此,形成露出第1和第2导电类型的杂质扩散区的接触孔,在最终结构上形成半导体层,在半导体层上面形成硅化物膜,退火最终结构,由此,把第1和第2导电类型杂质扩散区的杂质离子扩散到半导体层中。
申请公布号 CN1056473C 申请公布日期 2000.09.13
申请号 CN96107262.8 申请日期 1996.03.29
申请人 现代电子产业株式会社 发明人 金载甲
分类号 H01L23/52;H01L21/768;H01L21/28 主分类号 H01L23/52
代理机构 上海专利商标事务所 代理人 陈亮
主权项 1.一种半导体元件互连器件,连接在半导体衬底上形成的杂质扩散区,各杂质扩散区有不同的导电率,该器件包括:在半导体衬底上形成的第1导电类型的阱和第2导电类型的阱,第1导电类型的阱有第2导电类型的杂质扩散区,而第2导电类型的阱有第1导电类型的杂质扩散区;在半导体衬底上形成绝缘膜,绝缘膜限定接触孔,分别露出第1和第2导电类型杂质扩散区;第1杂质扩散半导体层和第2杂质扩散半导体层分别形成在各自接触孔底部露出的第1和第2导电类型的杂质扩散区;在第1和第2杂质扩散半导体层上形成硅化物膜,并且相互连接它们。
地址 韩国京畿道