| 主权项 |
1.一种光源,用于一物质之检测者,当此物质系由自此光源所放射之光之波长所激发时,此物质以一较自此光源所放射之光之波长更大之一波长放射光,此光源包含:一外壳有一光出口;一基本上为抛物柱面之反射镜放置于此外壳以内;一灯定置于外壳内在抛物柱面反射镜和光出口之间,其中此灯系具有能力系连接至一电动力原者;以及一滤光器定置于外壳内在灯和光出口之间,其中此滤光器限制自此灯所放射之光之波长,以及此光系由此抛物柱面反射镜所反射;由是而使自光源所放射之光之波长之通过此光出口者系被限制于一预定之距离,当此物质系由自光源所放射之光之波长所激发时,有效地以增强自一物质之光之放射之探测。2.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜大体上反射自此灯所放射之光之经选择之波长。3.如申请专利范围第1项之光源,其中此灯系一低电压灯。4.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜系一分色反射镜。5.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜包括一刻面之表面。6.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜包括一光滑之表面。7.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜反射之光主要地在蓝色波长距离内。8.如申请专利范围第1项之光源,其中此反射镜反射光主要地在紫外线波长距离内。9.如申请专利范围第1项之光源,其中此滤光器系一吸收滤光器。10.如申请专利范围第1项之光源,其中此滤光器系一分色滤光器。11.如申请专利范围第1项之光源,其中此电动力源,系一电池包。12.如申请专利范围第1项之光源,其中此电动力源系一电池。13.如申请专利范围第1项之光源,其中此电动力源系一变压器。14.如申请专利范围第1项之光源,其中此光源产生一平均光功率密度在至少0.1mW/cm2之紫外线波长区内于自此光出口一两尺之距离处。15.如申请专利范围第1项之光源,其中此光源产生一平均光功率密度在至少0.75mW/cm2之蓝色波长区内于自此光出口之一两尺之距离处。16.如申请专利范围第1项之光源,其中此光源另包括一滤光镜安装于外壳上。17.一种光源,用于一物质之检测者,当此物质系由自此光源所放射之光之波长所激发时,此物质以一较自此光源所放射之光之波长更大之一波长放射光,此光源包含:一外壳有一光出口;一反射镜放置于此外壳以内;一低电压灯定置于外壳内在此反射镜和光出口之间,其中此灯系具有能力系连接至一电动力源者;以及一滤光器定置于外壳内在灯和此光出口之间,其中此滤光器限制自此灯所放射之光之波长以及申反射镜所反射之光;当此物质系由自此光源所放射之光之波长所激发时,由是而使自此光源所放射之光之波长通过此光出口者系被限制至一有效地增强自此物质之光之放射之探测;以及其中此光源产生一平均光功率密度在至少0.1wM/cm2之紫外线波长区于自此光出口之两尺之距离处,或者一平均光功率密度在至少0.75wM/cm2之蓝色波长内于自此光出口之一两尺之距离处。18.如申请专利范围第17项之光源,其中此反射镜系一二向色性反射镜。19.如申请专利范围第17项之光源,其中此反射镜反射之光主要地在此蓝色波长距离内。20.如申请专利范围第17项之光源,其中此反射镜反射之光主要地在紫外线波长距离内。21.如申请专利范围第17项之光源,其中此滤光器系一吸收滤光器。22.如申请专利范围第17项之光源,其中此滤光器系一二向色性滤光器。23.如申请专利范围第17项之光源,其中此电动力源包括一电池。24.如申请专利范围第17项之光源,其中此反射镜系一基本上为抛物柱面反射镜。25.一种用以在一流体系统中探测漏泄之系统,该系统包含:一种物质,在其系由一光之激发波长所激发之后,具有能力放射光之一放射波长者;以及一光源具有能力放射光之此激发波长,此光源包含:一外壳有一光出口;一反射镜放置于此外壳以内;一低压灯定置于此外壳内在此反射镜和光出口之间;以及一滤光器定置于此外壳内在此灯和光出口之间,其中此滤光器限制自此灯所放射之光之波长以及由此反射镜所反射之光;由是而当此物质系由此激发波长所激发时,自此光源所放射之光通过此出口者系被限制至一预定距离,包括此激发波长有效地增强自一物质之光之放射波长之探测;以及其中此光源产生一平均光功率密度在至少0.1mW/cm2之紫外线波长区内于自光出口之一两次之距离处,或者一平均光功率密度在至少0.75mW/cm2之蓝色波长区内于自光出口之一两尺之距离处。26.如申请专利范围第25项之系统,其中此反射镜系一抛物柱面反射镜。27.如申请专利范围第25项之系统,其中此物质系一种放射性漏泄检测染料。28.如申请专利范围第25项之系统,其中此染色系一亚胺,perylene,thioxanthine,香豆素,或萤光剂。29.如申请专利范围第25项之系统,其中此系统另包括一滤光镜,用以探测光之放射波长,其中所放射之光之放射波长系由一光源之使用者藉滤光镜之运用而增强。30.如申请专利范围第29项之系统,其中此滤光镜系经并合入护目镜内。31.如申请专利范围第29项之系统,其中此滤光镜系经并合于一面罩内。32.如申请专利范围第29项之系统,其中此滤光镜系结合至光源之外壳。33.如申请专利范围第29项之系统,其中此滤光镜包括一长波长传送物质。34.如申请专利范围第25项之系统,其中此反射镜系一抛物柱面反射镜。35.如申请专利范围第25项之系统,其中此灯系具有能力连接至一电力源者。36.如申请专利范围第33项之系统,其中该电力源包括一电池。37.一种在一系统中探测漏泄之方法,此系统含一物质可于受激发波长之光所激发之后放射一放射波长之光,此方法包含:自一光源提供在该激发波长之一准直光束至一漏泄点;以及探测自该物质发出之光之放射。38.如申请专利范围第37项之方法,其中该物质和该光源系装设于单一包封内,且该物质系添加于该系统中。39.一种光源,用于一物质之检测者,当此物质系由自此光源所放射之光之波长所激发时,此物质以一较自此光源所放射之光波长更大之一波长放射光,此光源包含:具有一光出口之一外壳;定置于该外壳内之一灯,其中此灯具有能力系连接至一电力源者;以及一个二向色性滤光器,定置于外壳内在灯和光出口之间,其中此滤光器限制自此灯所放射之光之波长,因此使自光源所放射之光之波长之通过该光出口者,是在当一物质受自光源所放射之光之波长所激发时可有效地增强检测来自该物质之光之放射之能力的一预定范围内。图式简单说明:第一图系一绘图,说明用以检测物质之一有抛物柱面反射镜之一光源之一实施例之剖视图,而此物质于较自激发此物质之光源所放射之光之波长更大之波长处放射光;第二图系一绘图,说明有一抛物柱面反射镜之一光源之一实施例之分解图;第三图系一绘图,说明护目镜之一透视图,此护目镜包括长型波长传送物质供与一光源联合使用者;第四图系一绘图,说明一面罩之透视图,包括长型波长传送物质供与一光源连同使用者;第五图系一绘图,说明有抛物柱面反射镜和一电池包之一光源之剖视图;第六图系一绘图,说明有一抛物柱面反射镜之一光源之另一可供选择实施例之一分解图。 |
