CIRCUIT TEST METHOD OF BAMI SUBSCRIBER,申请号KR19980029884-传众专利搜索

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发明名称	CIRCUIT TEST METHOD OF BAMI SUBSCRIBER
摘要
申请公布号	KR100264860(B1)	申请公布日期	2000.09.01
申请号	KR19980029884	申请日期	1998.07.24
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	KIM, YEONG-IL
分类号	H04W24/00;(IPC1-7):H04Q7/34	主分类号	H04W24/00
代理机构		代理人
主权项
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