发明名称 球状细粒之淤浆,以及由彼制成之聚酯组成物与膜
摘要 一种含平均粒径为1.5微米或较少的球状细粒之淤浆及一种分散此球状细粒之分散性介质,在以具有公称口径为3微米之孔洞开口的直孔膜过滤器过滤之后,基于全部细粒之总重量则淤浆残余物之量为0.01wt%或较少及此残余物基于全部细粒外的一百万个粒子包含最多仅5个球状剩余粒子。此淤浆可用来制备一种可提供具有已控制表面特性之膜的聚酯组成物及一种具有极小数量衍生自粗糙粒子之粗糙突出物之聚酯膜。
申请公布号 TW402559 申请公布日期 2000.08.21
申请号 TW087118528 申请日期 1998.11.06
申请人 帝人股份有限公司 发明人 龟冈晃;小菅雅彦
分类号 B29C55/12;C08J3/00 主分类号 B29C55/12
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 /AIT{1.一种淤浆,包含5至4Owt%平均粒径为1.5微米或 以下之球状细粒及95至6Owt%分散 此球状细粒之分散性液体介质,以具有公称口径为 3微米之孔洞开口的直孔膜过滤器过滤之 后此淤浆残余物之量为0.01wt%或以下,基于全部细 粒之总重量,又基于全部细粒中的一百 万粒子此残余物最多仅包合5个球状剩余粒子,} /ait{其中球状细粒为球状有机聚合物粒子或球状 无机粒子,且其中球状细粒之最大直径与 最小直径比率为1.0至1.2。} /AIT{2.如申请专利范围第1项之淤浆,其中球状细粒 具有平均粒径为0.7至1.5微米。} /AIT{3.如申请专利范围第1项之淤浆,其中球状细粒 具有平均粒径大于或等于0.2微米及小 于0.7微米,及以具有公称口径为2微米之孔洞开口 的直孔膜过滤器过滤后,基于全部细粒中 的一百万粒子在遗留的残余物中最多仅包合100个 球状剩余粒子。} /AIT{4.如申请专利范围第3项之淤浆,其中在以具有 公称口径为2微米之孔洞开口的直孔膜 过滤器过滤之后,基于全部细粒之总重量所遗留的 残余物为0.01 wt%或较少。} /AIT{5.如申请专利范围第1项之淤浆,其中球状细粒 具有平均粒径小于0.2微米,及在以具 有公称口径为0.6微米之孔洞开口的直孔膜过滤器 过滤之后,基于全部细粒中的一百万个粒 子在遗留的残余物中最多仅包含500颗球状剩余粒 子。} /AIT{6.如申请专利范围第5项之淤浆,其中在以具有 公称口径为0.6微米之孔洞开口的直孔 膜过滤器过滤之后,基于全部细粒之总重量所遗留 的残余物为0.01wt %或较少。} /AIT{7.一种聚酯组成物,包含以重量计100份的芳香 族聚酯及以重量计0.001至5份具有平均 粒径为1.5微米或以下的球状细粒,且此球状细粒基 于全部细粒中的一百万个粒子最多仅包 含5颗粒径大于3微米的球状粒子。} /AIT{8.如申请专利范围第7项之聚酯组成物,其中球 状细粒具有平均粒径为0.7至1.5微米。} /AIT{9.如申请专利范围第7项之聚酯组成物,其中球 状细粒具有平均粒径大于或等于0.2微 米及小于0.7微米,及基于全部细粒中的一百万个粒 子最多仅包含100颗粒径大于2微米的球 状粒子。} /AIT{10.如申请专利范围第7项之聚酯组成物,其中球 状细粒具有平均粒径小于0.2微米,及 基于全部细粒中的一百万个粒子最多仅包含500颗 粒径大于0.6微米的球状粒子。} /AIT{11.如申请专利范围第7项之聚酯组成物,其中芳 香族聚酯选自聚亚烷基对苯二甲酸酯 及聚亚烷基二羧酸酯。} /AIT{12.如申请专利范围第7项之聚酯组成物,其进一 步包合以重量计为0.01至2份平均粒径 为0.01至1.5微米的非球状细粒,基于以重量计100份 之芳香族聚酯。} /AIT{13.如申请专利范围第9项之聚酯组成物,其进一 步包含以重量计为0.01至2份平均粒径 为0.01至0.7微米的非球状细粒,基于以重量计100份 之芳香族聚酯。} /AIT{14.如申请专利范围第10项之聚酯组成物,其进 一步包含以重量计为0.01至2份平均粒 径为0.01至0.6微米的非球状细粒,基于以重量计100 份之芳香族聚酯。} /AIT{15.一种从如申请专利范围第7项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{16.一种从如申请专利范围第8项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{17.一种从如申请专利范围第12项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{18.一种从如申请专利范围第13项之衆酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{19.一种从如申请专利范围第14项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{20.如申请专利范围第16项之膜,其在测量光波 长度为0.54微米下每15平方公份显示 出15个或较少第三级或较高级数的干涉条纹。} /AIT{21.一种从如申请专利范围第9项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{22.如申请专利范围第21项之膜,其在测量光波 长度为0,54微米下每15平方公份显示 出15个或较少第三级或较高级数的干涉条纹。} /AIT{23.一种从如申请专利范围第10项之聚酯组成物 制得的双轴向聚酯膜。} /AIT{24.如申请专利范围第23项之膜,其当利用微份 干涉显微镜视觉地计数时,每0.25平方 公份具有10颗或以下最大直径为1微米或以上的突 出物。}
地址 日本