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发明名称 EDDY CURRENT TESTING WITH COMPACT CONFIGURATION
摘要 <p>In an eddy current testing probe, efficiency is improved by reusing coils in different measurement configurations in order to provide a higher density of inspection coverage.</p>
申请公布号 WO2000047986(A1) 申请公布日期 2000.08.17
申请号 CA2000000135 申请日期 2000.02.14
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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