| 发明名称 | 使用非易失性元件的可编程逻辑器件中的配置控制 | ||
| 摘要 | 使用一种边界扫描测试电路(JTAG)接口为一配置寄存器(150)内的一组配置锁存器(151)提供数据。配置寄存器(150)包含在作为测试数据寄存器(TDR)(180)的JTAG结构内。配置寄存器(150)内的每个配置位由配置锁存器(151)构成,且每个配置锁存器(151)具有在输出逻辑宏单元内用作配置控制信号(160)的输出。由一组串联的配置位非易失性元件的侦测锁存器(120)或由用于配置、建立原型和测试的JTAG测试数据输入(TDI)数据引脚(101)来选择性地提供配置寄存器的输入信号(149)。 | ||
| 申请公布号 | CN1263618A | 申请公布日期 | 2000.08.16 |
| 申请号 | CN99800586.X | 申请日期 | 1999.03.23 |
| 申请人 | 爱特梅尔股份有限公司 | 发明人 | S·拉马默茜;J·费伊;W·J·塞琪;N·伯杰;G·S·贡韦尔;E·J·丹 |
| 分类号 | G06F13/28;G06F17/50;H03K19/177 | 主分类号 | G06F13/28 |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所 | 代理人 | 张政权 |
| 主权项 | 1.一种用于控制与可编程逻辑器件中的非易失性元件相连的寄存器的系统，其特征在于包括：包括许多外部器件引脚和被定义为配置寄存器的至少一个测试数据寄存器的边界扫描测试电路，这些外部器件引脚之一被定义为测试数据输入引脚；一组串联的配置位非易失性元件侦测锁存器(CBSL)，CBSL存储非易失性元件的一组数据；用于在施加第一信号时把来自非易失性元件的这组数据推进到配置寄存器的装置；以及用于在施加第二信号时把来自测试数据输入引脚的一组测试数据信号推进到配置寄存器的装置。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||