星用辐射效应探测器

摘要

一种与星上数据采集系统配套使用,检测粒子辐射对CMOS集成电路影响的星用CMOS辐射效应探测器,能完成对电离辐射敏感的CC4007电路N沟管阈电压值检测。主要由测量控制电路、恒流源电路、电压输出接口电路和被测CMOS4007组成,采用星上数据采集系统给出的一路测量启动脉冲控制,按时序对两片4007中6个N沟管阈电压依次测量,输出模拟电压信号送至星上数据采集系统的模数转换器ADC0816。该探测器具有功耗低、可靠性高的特点。

主权项

1、一种与星上数据采集系统配套使用，用于检测电离辐射对CMOS集成电路影响的星用CMOS辐射效应探测器，能完成对两片4007中6个N沟管阈电压检测，其特征在于，该机是由测量控制电路、恒流源电路、电压输出接口电路和被测CMOS 4007组成，其中测量控制电路、恒流源电路和电压输出接口电路分别与被测器件4007联接。