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发明名称 AUTOMATED MICROWAVE TEST SYSTEM WITH IMPROVED ACCURACY
摘要
申请公布号 EP1025450(A1) 申请公布日期 2000.08.09
申请号 EP19980951053 申请日期 1998.10.13
申请人 TERADYNE, INC. 发明人 BEGG, MATTHEW, THOMAS
分类号 G01R35/00;(IPC1-7):G01R35/00 主分类号 G01R35/00
代理机构 代理人
主权项
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