发明名称 |
Integrated circuit semiconductor device having built-in self-repair circuit for embedded memory and method for repairing the memory |
摘要 |
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申请公布号 |
GB0013911(D0) |
申请公布日期 |
2000.08.02 |
申请号 |
GB20000013911 |
申请日期 |
2000.06.07 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED |
发明人 |
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分类号 |
G06F12/16;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/44;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G06F12/16 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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