| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING RESISTIVITY OF SEMICONDUCTIVE MATERIALS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL178989(B1) |
申请公布日期 |
2000.07.31 |
| 申请号 |
PL19960313580 |
申请日期 |
1996.04.02 |
| 申请人 |
INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ |
发明人 |
PIOTROWSKI TADEUSZ;TWAROWSKI KRZYSZTOF |
| 分类号 |
G01R31/265;G01R31/302;(IPC1-7):G01R31/265 |
主分类号 |
G01R31/265 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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