发明名称 Integrated circuit for functional testing of bond pad cells
摘要 <p>Eine integrierte Halbleiterschaltung mit Pad-Zellen (PC), die jeweils ein Anschlußpad und einen Ausgangstreiber umfassen und die in einem Testbetrieb in ihrem Übertragungsverhalten zu überprüfen sind, weist einen Signalgeber (SG) zur Erzeugung periodischer Signalfolgen auf. Ein periodisches Ausgangssignal des Signalgebers (SG) ist einem Eingang (E) einer zu prüfenden Pad-Zelle (PC) als Eingangssignal zugeführt. Anhand eines entsprechenden periodischen Signals am Ausgang (DQ) der Pad-Zelle (PC) wird die Überprüfung des Übertragungsverhaltens der Pad-Zelle (PC) durch ein Meßverfahren mit einem Spektralanalysator (SAZ) im Frequenzbereich vorgenommen. Dadurch werden die bisher praktizierten aufwendigen Messungen im Zeitbereich vermieden. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP1020733(A2) 申请公布日期 2000.07.19
申请号 EP20000100014 申请日期 2000.01.03
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 DAEHN, WILFRIED, DR.
分类号 G01R31/28;G01R31/30;G01R31/317;(IPC1-7):G01R31/316 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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