发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Objektuntersuchung
摘要 Ein Mess-System dient insbesondere der Erfassung von Fehlstellen an Prüfobjekten. Das Messobjekt wird dazu aus einer Beleuchtungseinheit, die mehrere Laserdioden enthält, gleichmäßig ausgeleuchtet. Die Strahlkegel der einzelnen Laser überlappen sich stark, was eine homogene Beleuchtung auch bei großen Aufnahmewinkeln und sich ändernden Abbildungsverhältnissen durch unterschiedliche Objektgrößen und Abstände erbringt. Das Messobjekt wird interferometrisch beobachtet. Aus einzelnen Bildern werden Phasendifferenzbilder ermittelt. Diese werden 2PI/n-moduliert, wodurch insbesondere im Bereich von Fehlstellen Phasensprünge entstehen, die besonders gute Kontraste ergeben.
申请公布号 DE19859725(A1) 申请公布日期 2000.07.06
申请号 DE19981059725 申请日期 1998.12.23
申请人 DENGLER, STEFAN;MAEHNER, BERNWARD 发明人 DENGLER, STEFAN;MAEHNER, BERNWARD
分类号 G01B11/16;(IPC1-7):G01B11/16 主分类号 G01B11/16
代理机构 代理人
主权项
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