| 摘要 |
<p>Aufgabe der Erfindung ist es, eine quantitative Analyse der optischen Helligkeit von auf einer Oberfläche immobilisierten Partikeln zu ermöglichen. Bei dem Verfahren wird die Oberfläche (8) mit einem Lichtstrahl (5) derart bestrahlt, daß sich auf der Oberfläche ein elliptischer Fokus (7) mit einer Längsachse und einer kürzeren Querachse bildet. Die Oberfläche (8) mit dem immobilisierten Partikel wird in Richtung (9) der Querachse des elliptischen Fokus verschoben, wodurch alle Partikel quer durch den Fokus wandern. Das im Fokus (7) erzeugte optische Signal der Partikel wird über eine Sammeloptik (6) auf einer Spaltblende (2) abgebildet. Durch die Spaltblende werden nur Partikel aus einem zentralen Ausschnitt des elliptischen Fokus detektiert. Diese erfahren jeweils im wesentlichen die gleiche Anregungsintensität. Ihre Signale sind daher quantitativ besser definiert. Dies erlaubt auch eine quantitative Auswertung der Signalstärken.</p> |
