| 发明名称 |
Testing an integrated circuit device |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP0698890(B1) |
申请公布日期 |
2000.07.05 |
| 申请号 |
EP19950305705 |
申请日期 |
1995.08.16 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS LIMITED |
发明人 |
MCINTYRE, HUGH |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C16/06;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/24;G11C29/52;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00;G06F11/20 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
