| 摘要 |
A találmány egyrészt fizikai objektum (13) két dimenzióban történőminősítésére vagy tulajdonságának meghatározására szolgáló eljárás,amellyel az objektum (13), például anyagminta, kétdimenziós képénekképpontjaira meghatározzák az objektum (13) által kibocsátott sugárzásintenzitásértékeit a sugárzás hullámhosszának függvényében, majd azintenzitásértékeket képpontonként polárkoordináta-rendszerbensorbarendezve a polárkoordináta-rendszerben az intenzitásértékekalapján súlypontként legalább egy minőségpontot határoznak meg, és azobjektum (13) minősítését vagy valamely tulajdonságának meghatározásáta képpontonként meghatározott legalább egy minőségpont alapján végzikel. A találmány másrészt berendezés fizikai objektum (13) kétdimenzióban történő minősítésére vagy tulajdonságának meghatározására,amely tartalmaz az objektum (13) kétdimenziós képének képpontjaira azobjektum (13) által kibocsátott sugárzás intenzitásértékeit a sugárzáshullámhossza függvényében meghatározó készüléket, valamint azintenzitásértékek alapján az objektumot (13) minősítő vagy annakvalamely tulajdonságát meghatározó adatfeldolgozó egységet (24). Atalálmány szerint az adatfeldolgozó egységnek (24) azintenzitásértékeket képpontonként polárkoordináta-- rendszerben sorbarendező és a polár-koordinátarendszerben az intenzitásértékek alapjánsúlypontként legalább egy minőségpontot meghatározó eszközei, valaminta képpontonként meghatározott legalább egy minőségpont alapján azobjektumot (13) minősítő vagy annak valamely tulajdonságát meghatározóeszközei vannak. A kép- pontonként meghatározott minőségpontok (Q)helyzetéből, adott esetben egy referenciaobjektum minőségpontjátólvaló távolságukból a fizikai objektum (13) minőségére vagy valamelytulajdonságára lehet következtetni. ŕ |
