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发明名称
SYSTEM FOR STORING AND SEARCHING NAMED DEVICE PARAMETER DATA IN A TEST SYSTEM FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号
EP1012615(A1)
申请公布日期
2000.06.28
申请号
EP19980947004
申请日期
1998.09.15
申请人
TERADYNE, INC.
发明人
BLITZ, ALAN, L.
分类号
G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;G06F17/30;(IPC1-7):G01R31/319
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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