| 摘要 |
<p>Auf eine Oberseite eines zu testenden Sensors (5) wird eine Vorrichtung mit Leiterflächen (2) gleicher Anordnung wie die Leiterflächen (6) des zu testenden Sensors und mit einer dielektrischen Schicht (4) aus einem Material mit in Abhängigkeit von dem elektrischen Feld variabler Dielektrizitätszahl aufgesetzt. Durch Anlegen geeigneter Potentialdifferenzen zwischen den einander gegenüber angeordneten Leiterflächen kann ein beliebiges Meßobjekt simuliert werden.</p> |
