发明名称 | 分配备用区的方法和管理缺陷的方法及其记录介质 | ||
摘要 | 一种具有缺陷管理用的备用区及其管理信息的记录介质、备用区分配方法和缺陷管理方法。当用于在初始化期间的滑移替换和线性替换的分配的主备用区、用于初始化后的线性替换的分配的备用区不充足时,分配附加备用区。由初始化期间产生的缺陷数确定主备用区和附加备用区尺寸。记录备用区尺寸信息和表示备用区使用程度的剩余状态信息,以有效管理备用区。 | ||
申请公布号 | CN1257274A | 申请公布日期 | 2000.06.21 |
申请号 | CN99127736.8 | 申请日期 | 1999.11.10 |
申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 高祯完 |
分类号 | G11B7/0037;G11B7/007;G11B20/10 | 主分类号 | G11B7/0037 |
代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 马莹 |
主权项 | 1.一种记录介质,其特征在于,设有在初始化时被分配的主备用区和初始化之后被分配的附加备用区,所述备用区的尺寸由初始化时产生的缺陷数确定。 | ||
地址 | 韩国京畿道 |