Circuit with logic circuit for temperature dependant semi-conductor element test and repair

摘要

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit temperaturabhängiger Halbleiterbauelement-Test- und Reparaturlogik, bei der in einem Halbleiterchip (1) des Halbleiterbauelements (2) wenigstens ein Temperatursensor (3) vorgesehen ist. Zusätzlich sind in dem Halbleiterchip (1) das Halbleiterbauelement (2) mit dem Temperatursensor (3) und eine Selbsttest- und Reparaturlogik (4) miteinander verbunden. <IMAGE>