发明名称 | 半导体制造工艺和半导体器件制造工艺 | ||
摘要 | 一种以较低结晶温度和较短时间周期制造半导体的工艺,其工序是:在衬底上形成绝缘物涂层;将所述绝缘物涂层暴露到等离子体中;在上述暴露工序之后,在所述绝缘物涂层上形成非晶硅膜;并且在400到650℃或更高温度中,但不得高于衬底玻璃转换温度,热处理所述硅膜。成晶核部位是这样被控制的,选择性地将非晶硅膜暴露到等离子体中或选择性地施加一种物质,该物质含有起催化作用的元素。也披露了用同样方法制造薄膜晶体管的工艺。 | ||
申请公布号 | CN1052564C | 申请公布日期 | 2000.05.17 |
申请号 | CN94102771.6 | 申请日期 | 1994.02.03 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 高山徹;张宏勇;山崎舜平;竹村保彦 |
分类号 | H01L21/00;C30B35/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒;王忠忠 |
主权项 | 1.一种制造半导体的工艺,其工序如下:在衬底上形成绝缘物涂层;将所述绝缘物涂层暴露在等离子体中;在所述暴露工序之后,在所述绝缘物涂层上形成含非晶硅的半导体膜;和通过热处理使所述半导体膜晶体化;其中所述等离子体是利用一个电极产生的,该电极是由含Ni、Fe、Co和Pt一类元素中选取的至少一种元素的材料制成。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |