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Es wird eine Vorrichtung zum Testen einer Vielzahl von JTAG-tauglicher integrierter Schaltkreise vorgestellt, wobei zumindest einer der integrierten Schaltkreise ein Enhanced-Embedded-Debug-Modul beinhaltet. Die Vorrichtung ist in der Lage, selektiv bestimmte integrierte Schaltkreise zu testen, die an verschiedenen Orten lokalisiert sind. Auf diese Art und Weise können integrierte Schaltkreise in einem Zielbauteil getestet werden, bei dem integrierte Schaltkreise fehlerhaft oder nicht vorhanden sind. Die Vorrichtung erlaubt den Zugang zu verbesserten JTAG-Debug-Protokollen innerhalb eines gemischten (OCDS und nicht OCDS) IC-Netzwerks. |
