发明名称 | 制造半导体器件的方法 | ||
摘要 | 制造半导体装置例如薄膜晶体管的方法,它是在即低于非晶态硅的常规结晶温度,也低于衬底的玻璃转变点温度的一个温度中,对一个实质上非晶态硅膜进行退火以便使该硅膜结晶。镍、铁、钴、铂、硅化物、醋酸盐或硝酸盐的岛状,条状,线状或点状物,包含有各种盐的膜,包含了镍、铁、钴、和钯中至少一种的粒子或束状物可被用作为用于结晶的起动材料。在非晶态硅膜的上面或下面形成这些材料。 | ||
申请公布号 | CN1052110C | 申请公布日期 | 2000.05.03 |
申请号 | CN94103241.8 | 申请日期 | 1994.02.15 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 山崎舜平;竹村保彦;张宏勇;高山彻;鱼地秀贵 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 肖掬昌;叶恺东 |
主权项 | 1.一种制造半导体器件的方法,包括下列步骤:在衬底上形成包括硅的半导体膜;配置一与所说半导体膜相接触的催化物,所说催化物能促进所说半导体膜的晶化;加热所说配备以所说催化物的半导体膜,以晶化所说半导体膜;以及在所说加热后,使该半导体膜在含氯气的气氛下退火,以除去在所说半导体膜中所含的至少一部分所催化物,其中所说催化物包括选自由镍、铁、钴、铂和钯组成的组合中的一种金属。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |