| 发明名称 | 极细小物体的高分辨率X射线成像 | ||
| 摘要 | 一种用于X射线成像的样品室(10),它包括形成一样品腔(12)的装置(11),以及装在该装置上的可被合适的入射束(5)激发产生X射线辐射(6)的物质体(20),该样品室如此设置,使得在使用时,至少一部分所述X射线辐射穿过所述样品腔(12)而照射到其中的样品(7),然后穿出所述装置接受探测(35)。 | ||
| 申请公布号 | CN1252158A | 申请公布日期 | 2000.05.03 |
| 申请号 | CN98803984.2 | 申请日期 | 1998.04.08 |
| 申请人 | X－射线技术股份有限公司 | 发明人 | 斯蒂芬·威廉·威尔金斯 |
| 分类号 | G21K7/00 | 主分类号 | G21K7/00 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
| 主权项 | 1.一种用于X射线成像的样品室，它包括形成一样品腔的装置，以及装在该装置上的可被合适的入射束激发产生X射线辐射的物质体，该样品室如此设置，使得在使用时，至少一部分所述X射线辐射穿过所述样品腔而照射到其中的样品，然后穿出所述装置接受探测。 | ||
| 地址 | 澳大利亚维多利亚 | ||