Method of predicting the suitability of selected measuring points in a process for measuring artefacts on a machine,申请号GB20000005441-传众专利搜索

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发明名称	Method of predicting the suitability of selected measuring points in a process for measuring artefacts on a machine
摘要
申请公布号	GB0005441(D0)	申请公布日期	2000.04.26
申请号	GB20000005441	申请日期	2000.03.08
申请人	RENISHAW PLC	发明人
分类号		主分类号
代理机构		代理人
主权项
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