| 发明名称 |
Test system with test probes of different heights |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2342793(A) |
申请公布日期 |
2000.04.19 |
| 申请号 |
GB19990024193 |
申请日期 |
1999.10.13 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED |
发明人 |
JONG-HYUNG * HAN;YONG-TAEK * SHIM;TAE-YOUNG * KWAK |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R1/073;G01R31/02;H05K3/00;(IPC1-7):G01R1/073 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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