| 摘要 |
<p>La présente invention concerne un système, destiné à déterminer une distance à un objectif cible ou un déplacement d'un objet cible, qui détecte des caractéristiques électriques d'un laser à semi-conducteur dirigé vers l'objet. Une ou des surfaces de l'objet reçoivent de la lumière émise par le laser (22) et la renvoient vers le laser (22). La quantité de lumière réfléchie qui atteint le laser change les caractéristiques électriques du laser. En raison de la relation entre la quantité de lumière réfléchie atteignant le laser et la distance de l'objet cible, les caractéristiques électriques du laser à semi-conducteur fournissent une indication de la distance à l'objet cible (Fig 3A). Il est aussi possible d'utiliser un changement des caractéristiques électriques afin de déterminer une amplitude de déplacement d'un objet cible. Un système (Fig 4), selon l'invention, peut aussi comprendre un réseau de détecteurs optiques qui peut être focalisé sur un objet cible au moyen d'un suivi des caractéristiques électriques d'un ou plusieurs lasers à semi-conducteur. Il est possible de disposer une pluralité de lasers à semi-conducteur dans un réseau à deux ou trois dimensions de manière à ce que les lasers à semi-conducteur (22a, b, c) soient placés à différentes distances d'une surface cible. En suivant les caractéristiques électriques de la pluralité de lasers à semi-conducteur, il est possible de déterminer à la fois une amplitude et une direction de déplacement d'objet cible par rapport au réseau de lasers à semi-conducteur.</p> |
