发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR DETERMINING THE LAYER THICKNESS, THE CONDUCTIVITY AND/OR THE LAYER CONTACT QUALITY OF LAYERS DEPOSITED ON SUBSTRATES
摘要
申请公布号 EP0803062(B1) 申请公布日期 2000.04.12
申请号 EP19960900528 申请日期 1996.01.11
申请人 OPTISENSE GESELLSCHAFT FUER OPTISCHE PROZESSMESSTECHNIK MBH & CO. KG I.G. 发明人 SCHULZ, HARALD, HANS;KOHNS, PETER
分类号 G01B11/06;G01N21/84;(IPC1-7):G01N25/20 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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