| 发明名称 |
Integrated circuit test method and means with external access to internal signalling |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2342177(A) |
申请公布日期 |
2000.04.05 |
| 申请号 |
GB19990018766 |
申请日期 |
1999.08.09 |
| 申请人 |
* SAMSUNG ELECTRONICS CO LIMITED |
发明人 |
SEONG-KUE * CHO |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C11/401;G11C29/08;G11C29/14;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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