PROCEDE DE TEST DE LA CONNEXION DES SORTIES D'AU MOINS UN CIRCUIT DE PUISSANCE POUR ECRAN A PLASMA, ET CIRCUIT DE PUISSANCE POUR SA MISE EN OEUVRE

摘要

L'invention propose un procédé de test de la connexion d'au moins un circuit de puissance pour la commande d'un écran à plasma (1) consistant à mesurer le temps de décharge de la sortie de chaque étage de sortie de puissance du circuit par un courant de décharge constant, de préférence de faible valeur, afin d'en déduire la présence ou l'absence d'une électrode capacitive de l'écran connectée à cette sortie.Avantage : permet un test des défauts de contact entre les électrodes (Y) de l'écran à plasma (1) et les moyens de liaison (5) avec le circuit de puissance.