发明名称 SYSTEM FOR MEASURING THE SURFACE GEOMETRY AND SURFACE EVENNESS OF FLAT PRODUCTS
摘要 <p>Vorrichtung zum Erzeugen eines Musters auf einer Meßoberfläche mit Hilfe eines Projektors und eines Dias und verschiedenen vorteilhaften Ausgestaltungen des Meßsystems.</p>
申请公布号 WO2000016040(A1) 申请公布日期 2000.03.23
申请号 EP1999006594 申请日期 1999.09.07
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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