FDIC-Verfahren zur Minimierung von Messfehlern in einer Messanordnung von redundanten Sensoren,申请号DE19955007817-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	FDIC-Verfahren zur Minimierung von Messfehlern in einer Messanordnung von redundanten Sensoren
摘要
申请公布号	DE59507817(D1)	申请公布日期	2000.03.23
申请号	DE19955007817	申请日期	1995.11.14
申请人	LITEF GMBH	发明人	FISCHER, DR. DIPL.-PHYS.
分类号	G01D3/08;(IPC1-7):G01D3/08	主分类号	G01D3/08
代理机构		代理人
主权项
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