发明名称 FERROELECTRIC TRANSISTOR, ITS USE IN A STORAGE CELL SYSTEM AND ITS METHOD OF PRODUCTION
摘要 Ein als Speicherelement geeigneter ferroelektrischer Transistor weist zwischen Source-/Drain-Gebieten (12) an der Oberfläche eines Halbleitersubstrats (11) eine erste Gatezwischenschicht (13) und eine erste Gateelektrode (14) auf, wobei die erste Gatezwischenschicht (13) mindestens eine ferroelektrische Schicht (132) enthält. Neben der ersten Gatezwischenschicht (13) ist zwischen den Source-/Drain-Gebieten (12) eine zweite Gatezwischenschicht (16) und eine zweite Gateelektrode (17) angeordnet, wobei die zweite Gatezwischenschicht (16) eine dielektrische Schicht enthält. Die erste Gateelektrode (14) und die zweite Gateelektrode (17) sind über eine Diodenstruktur miteinander verbunden.
申请公布号 WO0014808(A1) 申请公布日期 2000.03.16
申请号 WO1999DE02083 申请日期 1999.07.05
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;HANEDER, THOMAS, PETER;REISINGER, HANS;STENGL, REINHARD;BACHHOFER, HARALD;WENDT, HERMANN;HOENLEIN, WOLFGANG 发明人 HANEDER, THOMAS, PETER;REISINGER, HANS;STENGL, REINHARD;BACHHOFER, HARALD;WENDT, HERMANN;HOENLEIN, WOLFGANG
分类号 H01L21/8247;G11C11/22;H01L21/8246;H01L27/105;H01L29/78;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):H01L29/786;H01L29/49 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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