摘要 |
(57) Abstract The invention relates to a DRAM storage capacitor, comprising a dielectric made of silicon nitride and at least two electrodes placed opposite to each other above the dielectric. A material with higher tunnel barrier ( phi beta ) between the Fermi level (F) of the material and the conduction band (L) of the dielectric is used for the electrodes. For said purpose, the appropriate materials are metals such a platinum, tungsten and iridium or silicide. (57) Zusammenfassung Die Erfindung betrifft einen Speicherkondensator für einen DRAM, mit einem aus Siliziumnitrid bestehenden Dielektrikum und mit wenigstens zwei, über das Dielektrikum einander gegenüberliegenden Elektroden. Für die Elektroden wird ein Material mit hoher Tunnelbarriere ( phi beta ) zwischen Fermi-Niveau (F) des Materials und Leitungsband (L) des Dielektrikums verwendet. Geeignete Materialien sind hierfür Metalle wie Platin, Wolfram und Iridium oder Silizide. |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;REISINGER, HANS;LEHMANN, VOLKER;STENGL, REINHARD;WENDT, HERMANN;LANGE, GERRIT;BACHHOFER, HARALD;FRANOSCH, MARTIN;SCHAEFER, HERBERT |
发明人 |
REISINGER, HANS;LEHMANN, VOLKER;STENGL, REINHARD;WENDT, HERMANN;LANGE, GERRIT;BACHHOFER, HARALD;FRANOSCH, MARTIN;SCHAEFER, HERBERT |