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发明名称 TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICES
摘要
申请公布号 KR100247222(B1) 申请公布日期 2000.03.15
申请号 KR19960037159 申请日期 1996.08.30
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 YU, KWANG SUK;BAE, YONG JUN
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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