发明名称 | 使阈值电压上升的升压阱 | ||
摘要 | 一种改进的升压阱注入,它可比传统的辉光注入提供更好的特性,特别是对于短沟道装置(例如0.25微米或更小)。事实上,注入物可被分布在整个沟道内,但当器件的栅长度小于临界尺寸时,须使较高的浓度发生在沟道的,这时可采用很大的倾斜角(例如30°-50°)、较轻的搀入物品种和比传统的辉光注入大的能量来注入。 | ||
申请公布号 | CN1247632A | 申请公布日期 | 2000.03.15 |
申请号 | CN97181967.X | 申请日期 | 1997.12.08 |
申请人 | 英特尔公司 | 发明人 | S·E·汤普森;P·A·帕坎;T·哈尼;M·斯特特勒;S·S·阿梅德;M·T·波尔 |
分类号 | H01L21/265;H01L21/266 | 主分类号 | H01L21/265 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 周备麟;黄力行 |
主权项 | 1.用来制造具有栅的MOS器件的一种改进方法,该MOS器件具有属于第一导电类型源区和漏区,它们是在属于第二导电类型的衬底区域上形成的,该改进方法的特征为,将属于第二导电类型的掺杂物注入到衬底内,这样在栅长度减短时,来增加属于第二导电类型的掺杂物在某一区域内的掺杂物浓度,这个区域一般在源区域和漏区域的中间。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |