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发明名称 TEST SYSTEM IN WHICH IC DEVICES UNDER TEST ARE SELECTED AT RANDOM DEPENDING ON THE TEST PATTERNS
摘要
申请公布号 KR100247173(B1) 申请公布日期 2000.03.15
申请号 KR19970051931 申请日期 1997.10.10
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 HUH, KYUNG IL;KIM, TAE RYUN
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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