| 主权项 |
1.一种光学扫描器之扫描光迹歪斜自动校正方法,系在判定所扫描之影像为歪斜时,自动执行影像的校正,并输出校正后的影像,包含步骤:a.执行座标指数,区段数,宽度的初始化;b.读取座标As(Xi,Yj)的图素;c.执行该座标As(Xi,Yj)之图素的歪斜率计算;d.判定该图素之歪斜率除以一个图素的余数是否小于二分之一个图素的边长;e.当判定该图素之歪斜率除以一个图素的余数小于二分之一个图素的边长时,执行第一校正面积计算;f.当判定该图素之歪斜率除以一个图素的余数大于二分之一个图素的边长时,执行第二校正面积计算;并将区段数增加一;g.依据该图素之区段储存该校正之图素;h.将横座标指数增加一,及纵座标指数增加一;执行步骤(b);及i.当判定完成一整列之图素的校正时,依据该图素之区段读取该校正之图素。2.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含步骤:j.区分记忆装置为复数个固定的区块。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之第一校正面积计算为:[As(i,j)*((b2-a1-a4)b2)]+[As(i,j-1)*(a2/b2)]+[As(i+1,j)*(a3/b2)],其中As(i,j)表示歪斜之影像的座标,b表示图素的边长,a1表示该图素左边之校正面积,a2表示图素上方之校正面积,a3表示该图素右方之校正面积,a4表示该图素下方之校正面积。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之第二校正面积计算为:[As(i,j)*(a4/b2)]+[As(i,j+1)*(a3/b2)]+[A(i,j-1)*(a2/b2)],其中As(i,j)表示歪斜之影像的座标,b表示图素的边长,a3表示该图素右边之校正面积,a2表示图素上方之校正面积,a4表示该图素下方之校正面积。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中上述之步骤(c)的计算公式为:h=1tan,其中,1表示图素i之边长,表示图素i之面积。6.如申请专利范围第1项所述之方法,更包含步骤:k.判定横座标指数是否等于上述之扫描影像的宽度。7.一种光学扫描器之扫描光迹歪斜自动校正装置,系在读取扫描之影像时,自动判定所扫描之影像是否为歪斜,并在判定为歪斜时执行影像的校正,并输出校正后的影像,包含:校准装置,用以输出判断图素之歪斜率的参考座标;歪斜率计算模组,用以输入一歪斜之图素资料并依据该校准装置的输出,输出该图素的歪斜率;校正模组,用以读取该歪斜之图素资料,并依据该校准装置的输出执行该图素的校正;记忆装置,用以依序储存该校正之图素;及输出装置,用以在完成一整列之图素的校正后,依序输出该校正之图素。8.如申请专利范围第7项所述之装置,其中上述之记忆装置包含:复数个区块,用以储存不同区段之图素。9.如申请专利范围第7项所述之装置,其中上述之校正模组为依据第一校正面积计算及第二校正面积计算执行上述之图素的校正。10.如申请专利范围第9项所述之装置,其中上述之第一校正面积计算为:[As(i,j)*((b2-a1-a4)b2)]+[As(i,j-1)*(a2/b2)]+[As(i+1,j)*(a3/b2)],其中As(i,j)表示歪斜之影像的座标,b表示图素的边长,a1表示该图素左边之校正面积,a2表示图素上方之校正面积,a3表示该图素右方之校正面积,a4表示该图素下方之校正面积。11.如申请专利范围第9项所述之装置,其中上述之第二校正面积计算为:[As(i,j)*(a4/b2)]+[As(i,j+1)*(a3/b2)]+[A(i,j-1)*(a2/b2)],其中As(i,j)表示歪斜之影像的座标,b表示图素的边长,a3表示该图素右边之校正面积,a2表示图素上方之校正面积,a4表示该图素下方之校正面积。图式简单说明:第一图为影像在扫描前出现歪斜的情形之放大示意图。第二图为本发明在处理歪斜之情形的方法示意图。第三图为本发明之自动校正方法的示意图。第四图为本发明之自动校正方法的流程图。第五图为本发明之自动校正装置。 |
