| 发明名称 |
SYSTEME ET PROCEDE DE CONTROLE POUR OPERATION DE TEST DE CIRCUIT INTEGRE SEMI-CONDUCTEUR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2763716(B1) |
申请公布日期 |
2000.03.10 |
| 申请号 |
FR19970016694 |
申请日期 |
1997.12.30 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD |
发明人 |
CHEONG KWANG TUNG;LEE ANN SEONG;KIM JAE YOUNG |
| 分类号 |
G01D21/00;B07C5/344;G01R31/26;G01R31/28;G06F17/00;G07F7/00;H01L21/02;H01L21/66;H01L49/00;(IPC1-7):G06F17/60 |
主分类号 |
G01D21/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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