| 发明名称 |
PICK AND PLACE IN A HANDLER SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICES AND METHOD FOR PRECISING THEM USING IT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100243049(B1) |
申请公布日期 |
2000.03.02 |
| 申请号 |
KR19970012445 |
申请日期 |
1997.04.04 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. |
发明人 |
GU, TAE-HUNG |
| 分类号 |
G01R31/26;B25J15/06;B65G49/07;H01L21/66;H01L21/68;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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