发明名称 TESTING HANDLER FOR A SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 KR100243823(B1) 申请公布日期 2000.03.02
申请号 KR19970005986 申请日期 1997.02.26
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 HUKKASAWA, YOSIHITTO
分类号 G01R31/26;B07C5/344;G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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