发明名称 自动检测及去除连续铸造产物表面瑕疪的方法与装置
摘要 一种将连续铸造产物(2)的表面瑕疪自动检测的方法,该连续铸造产物在仍热的状态分割成部分长度,且在一滚压道中的完工滚压之前送到一材料除去机(l),特别是一研磨机,在该除去机中。连续铸造产物(2)的材料依其所要加工的表面上利用瑕疵寻找装置(6)(7)所得知之瑕疵位置而多少有些密集地将材料去除,其中:该表面瑕疵(12a)(12b)从瑕疵寻找装置(6)(7)当作影像资讯送到一个影像处理的处理机(ll),并被一电脑(13)读入,该电脑接到该机械的控制装置(17),且具有整合之比较与分析模组(15),在该电脑中,送来的数位影像资讯在一个图案辨识程序中与典型之表面瑕疵之储存影像比较,并将结果(如瑕疵长度及宽度及瑕疵面积)直接处理且在就表面瑕疵的关系作分类后,储存在一个参考座标的瑕疵档案(16);或者储存在一表面档案后,在一随后之分析程序中分类。另外亦关于一种装置,此瑕疵寻找装置设计成检查单元(6)(7)形成,该检查单元至少有一摄影机(8)及一照明装置(9),二者设在一横跨放置(3)的横架(14)上,且该检查单元(6)(7)连接到该具有比较及分析模组(15)及一参考座标式瑕疵档案(16)的电脑。
申请公布号 TW383238 申请公布日期 2000.03.01
申请号 TW087107575 申请日期 1998.05.15
申请人 西马格特兰斯盘股份有限公司 发明人 佛克莱纳史耐德;汉斯–约阿辛巴拉赫
分类号 B22D11/16 主分类号 B22D11/16
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种自动检测及去除连续铸造产物表面瑕疵的方法,该连续铸造产物在仍热的状态分割成部分长度,且在一滚压道中的完工滚压之前送到一材料除去机,特别是一研磨机,在该除去机中。连续铸造产物的材料依其所要加工的表面上利用瑕疵寻找装置)所得知之瑕疵位置而多少有些密集地将材料去除,其特征在:该表面瑕疵被瑕疵寻找装置当作影像资讯送到一个影像处理的处理机,并被一电脑读入,该电脑接到该机械的控制装置,且具有整合之比较与分析模组,在该电脑中,送来的数位影像资讯在一个图案辨识程序中与典型之表面瑕疵之储存影像比较,并将结果,如瑕疵长度及宽度及瑕疵面积直接处理,且在就表面瑕疵的关系作分类后,储存在一个参考座标的瑕疵档案;或者储存在一表面档案后,在一随后之分析程序中分类。2.如申请专利范围第1项之方法,其中:该与座标相关联的瑕疵档案藉资料传输送到机器控制装置,该机器控制装置做瑕疵的自动处理。3.如申请专利范围第1或第2项之方法,其中:该瑕疵种类及出现频率繁率被一个整合在电脑中的统计模组测出,其中,该电脑将瑕疵位置自动选出,并将材料除去机的除去工具经由机器控制装置依标的使用以作自动加工。4.如申请专利范围第1项之方法,其中:该与座标相关的瑕疵档案在线上与机器控制台连接。5.一种用于实施申请专利范围第1项之方法的装置,包含一个与一设在上方之电脑(13)相连接的材料除去机,特别是研磨机,它具有一除去切屑的工具,例如研磨盘、刨刀或铣具,并包含一放置台(3)以放置所要加工的产物(2),且具有至少一个瑕疵寻找装置(6)或(7),其中该电脑(13)与该机器控制装置(17)连接,其特征在:此瑕疵寻找装置设计成检查单元(6)(7)形式,该检查单元至少有一摄影机(8)及一照明装置(9),二者设在一个横跨放置台(3)的横架(14)上,且该检查单元(6)(7)连接到该具有比较及分析模组(15)及一参考座标式瑕疵档案(16)的电脑。6.如申请专利范围第5项之装置,其中:在该材料除去机前方设有一第一检查单元(6),而在该除去机后方设有一第二检查单元。7.如申请专利范围第5项之装置,其中:多数摄影机(8)设成瀑布方式。8.如申请专利范围第5项之装置,其中:该摄影机(8)设有一光学滤光器。9.如申请专利范围第5项之装置,其中:该检查单元(6)(7)以可移行的方式设在该横架(4)上。10.如申请专利范围第5项之装置,其中:该摄影机(8)及照明装置(9)前方设有一保护片(10)。11.如申请专利范围第5项之装置,其中:该摄影机(8)与照明装置(9)包封成绝热方式及/或受冷却。图式简单说明:第一图系具有相关之检查单元的一个可移行研磨台的前视图(a部分)与整体视图(b),各用示意方式表示;第二图系第一图b部分的研磨单元,它具有电脑逻辑用以自动检出表面瑕疵,用方块图示意表示。
地址 德国