| 发明名称 | 红外线筛选和检测系统 | ||
| 摘要 | 一般使用红外线探测器检验印刷电路卡,其结果的空间分辨率和重复性很差,使得这些设备不能获得商业成功。本系统克服了这些问题,它包括:等热壳装置(1)用于收纳要检测的卡(33);在等温室(32)中的红外摄像装置(94);在等温室(32)中的传感器装置(109、110)用于监测所述样品的温度和所述等温室中的环境温度状况,并产生表示这种温度的信号;以及与摄像装置(94)和传感器(109、110)相连的计算机(96),用于检验所有信号来产生样品(33)的三维图象,样品与样品在图象中的变化表示出样品的异常。 | ||
| 申请公布号 | CN1246180A | 申请公布日期 | 2000.03.01 |
| 申请号 | CN98802165.X | 申请日期 | 1998.01.29 |
| 申请人 | ART探索研究技术公司 | 发明人 | 杰里·施拉格克;皮埃尔·博德里 |
| 分类号 | G01N25/72;G01R31/04;G01R31/309;G12B15/04 | 主分类号 | G01N25/72 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 杜日新 |
| 主权项 | 1.一种红外检测和探测系统，包括：a.等热壳装置(1)，定出接纳待检样品(33)的等温室(32)；b.在所述等温室(32)中的支撑装置(31)，用于支撑样品(33)检测；c.在所述等温室(32)中的红外摄像装置(94)，用于监视样品的红外辐射并产生表示样品(33)所有区域温度的信号；d.在等温室(32)中的传感器装置(109、110)，用于监测所述样品的温度和所述等温室(32)中的环境温度状况，并产生表示这种温度的信号；以及e.与所述摄像装置(94)和所述传感器装置(109、110)相连计算机装置(96)，用于检验所有信号，产生样品(33)的三维图象，样品与样品在图象中的变化表示样品异常。 | ||
| 地址 | 加拿大魁北克 | ||