发明名称 |
集成电路中介电层的制造方法 |
摘要 |
一种集成电路中介电层的制造方法,其主要步骤如下:首先,沉积一层金属导电层,并利用活性离子式电浆蚀刻技术制定所述金属导电层的图案,使金属导电层图案并与半导体元件电性接触,然后利用等离子增强式化学沉积法沉积一介电层,其为介电层底层,最后以热解化学气相沉积法,利用四乙氧基硅烷和臭氧气体在介电层底层上沉积形成另一介电层,此介电层厚度均匀且可完全填满所述金属导电层图案之间的空隙,以达到平坦化效果。 |
申请公布号 |
CN1049764C |
申请公布日期 |
2000.02.23 |
申请号 |
CN96101197.1 |
申请日期 |
1996.02.14 |
申请人 |
台湾茂矽电子股份有限公司 |
发明人 |
陈光钊;涂玉堂 |
分类号 |
H01L21/762;H01L21/70;H01L21/31 |
主分类号 |
H01L21/762 |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人 |
徐娴 |
主权项 |
1、一种集成电路中介电层的制造方法,包括以下步骤:在一个半导体衬底上形成半导体元件和金属导电层图案;然后,在金属导电层图案上和半导体衬底其它区域形成一介电层底层;介电层底层的制造条件及步骤如下:利用等离子增强式化学气相沉积法,其反应物质为氧气加四乙氧基硅烷,沉积PE-TEOS介电层底层;在介电层底层上,再沉积一伴有臭氧的TEOS形成可流动性的二氧化硅介电层,由热解化学气相沉积法沉积,完全填满所述金属导电层图案间的空隙;其特征在于:在沉积PE-TEOS介电层底层步骤中,先利用第一功率进行PE-TEOS沉积后,再进行第二功率的PE-TEOS沉积,第一功率高于第二功率;经两种功率沉积PE-TEOS介电层后,才完成介电层底层的制作。 |
地址 |
中国台湾 |