| 发明名称 | 金属物体的探测装置 | ||
| 摘要 | 提供基于RL串联电路过渡现象的特性,对金属物体的有无进行检测的探测装置。探测装置具有:RL串联电路,其包括设置得能够接近被检查物体的检查对象物体探测用线圈(L),和与上述线圈串联连接的电阻(R);处理电路(W、T、G),其根据上述RL串联电路的基准过渡现象的特征,对在上述RL串联电路施加了直流电压时产生的过渡现象的特性变化进行检测,根据此检测结果,输出表示有无上述检查对象物体的检查结果。 | ||
| 申请公布号 | CN1245295A | 申请公布日期 | 2000.02.23 |
| 申请号 | CN99106773.8 | 申请日期 | 1999.05.21 |
| 申请人 | 株式会社英田精密机械 | 发明人 | 西本真一 |
| 分类号 | G01V3/10 | 主分类号 | G01V3/10 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王以平 |
| 主权项 | 1.一种探测装置，具有：RL串联电路，其构成包括：检查对象物体探测用线圈(L)，它设置得能够接近可能含有检查对象物体的被检查物体；电阻(R)，它与上述线圈串联连接；以及处理电路(W、T、G)，其根据上述RL串联电路的基准过渡现象的特征，对在上述RL串联电路施加了直流电压时产生的过渡现象的特性变化进行检测，根据此检测结果，输出表示有无上述检查对象物体的检查结果。 | ||
| 地址 | 日本冈山县 | ||