| 发明名称 |
Verfahren und Gerät zur Prüfung integrierter Schaltungen |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE69513250(T2) |
申请公布日期 |
2000.02.17 |
| 申请号 |
DE19956013250T |
申请日期 |
1995.08.21 |
| 申请人 |
STMICROELECTRONICS LTD., ALMONDSBURY |
发明人 |
BEAT, ROBERT |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F11/27;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/12;(IPC1-7):G06F11/26 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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