| 主权项 |
1.一种用于测试影像元件感测电路之装置,在一具有成行列配置影像元件感测器电路之二维,影像扫描器阵列中,此种用以测试该影像元件感测器电路之装置包括:一提供可选择测试电压源之复置电源;一用以将一影像元件感测器电路中之一光敏装置之工作电压复置至一来自复置电源之测试电压之复置装置;影像元件感测器电路之一供电电压;及用以感测响应于将测试电压施加至光敏装置之影像元件感测器电路之输出之感测装置。2.如申请专利范围第1项之装置,进一步包括:一用以将一列中之每一影像元件感测器电路电连接至图像感测器电路之一行线路之列存取装置;该复置装置首次重调测试电压及该列存取装置则继该首次之后在第二次将影像元件感测器电路连接至行线路,由此复置装置及列存取装置可予以重复循环以提供图像感测器电路之连续测试。3.如申请专利范围第2项之装置,其中该复置装置包括:一用以将测试电压施加至行线路之复置电源;一用以在复置信号之存在期间将复置电源连接至行线路之开关装置;一用以仅在复置信号之存在期间将来自行线路之电压设定至光敏装置之复置开关。4.如申请专利范围第3项之装置,其中该开关装置包括:一与一N-通道半导体装置成并联之P-通道半导体装置以提供一开关以传送满标度测试电压而不受越过每一半导装置之电压降。5.如申请专利范围第1项之装置,其中该复置开关包括:一用以将测试电压施加至行线路之复置电源;一用以仅在复置信号之存在期间将复置电源连接至行线路之开关装置;一用以仅在复置信号之存在期间将来自行线路之电压设定至光敏装置之复置开关。6.如申请专利范围第5项之装置,其中该开关装置包括:一与一n-通道半导体装置成并联之P-通道半导体装置以提供一开关以传送一满标度测试电压而不受越过每一半导体装置之电压降。7.一种用以测试一聚焦平面影像扫描器阵列之方法,包括下列步骤:a)提供一影像元件感测器电路一供电电压;b)将一越过影像元件感测器电路中之一光敏装置之工作电压复置至一测试电压而不是电源电压;c)在越过光敏装置之工作电压业已藉该复置步骤予以复置至测试电压后将越过光敏装置之工作电压驱动至输出线路上;d)自输出线路提供一与越过光敏装置之工作电压成正比之输出复置信号。8.如申请专利范围第7项之方法,再包括下列步骤:e)将驱动步骤切断以便将越过光敏装置之工作电压与输出线路作电气隔离;f)施加测试电压至输出线路之该复置步骤;g)用以经由输出线路施加越过光敏装置之测试电压作为复置工作电压之第二转换步骤;h)在该第二转换步骤以后,制止该第二转换步骤及启动该驱动步骤以驱动复置工作电压至线路上藉步骤d)提供一输出测试信号。9.如申请专利范围第8项之方法,再包括下列步骤:在连续测试循环期中重复步骤e)至步骤h);在每一测试循环期中变换由该重调步骤所提供之测试电压。10.如申请专利范围第7项之方法,再包括下列步骤:在连续测试循环期中重复步骤b)至步骤d);在每一测试循环期中变换由该重调步骤所提供之测试电压。11.一种具有多个影像元件感测电路之影像扫描器阵列,每一影像元件感测电器包括:一由一重调电压所逆偏压之光电二极体;一用以驱动一与相当于越过光电二极体之电压之一工作电压成正比之输出信号之源极输出场效电晶体电路;一用以可操作方式供给源输出电路电力之供电电压源;一用以当作复置电压供给一测试电压之与供电电压源分开之复置电压源:一用以施加复置电压,以逆偏压光电二极体之复置场效电晶体;一定时器用以首先启动复置场效电晶体以施加当作一越过光电二极体工作电压之测试电压及因此用以启动源极输出电路以驱动一与操电压成正比之输出信号。12.如申请专利范围第11项之阵列,其中:该定时器循环地重复启动复置电晶体及启动源极输出电路以提供连续测试循环;该复置电压源供给不同测试电压每个测试循环。13.如申请专利范围第11项之阵列,其中多个该影像元件感测器电路中之源极输出电路则驱动输出信号至一由该等感测器电路所共用之共同输出线路,该阵列再包括:响应于定时器之该复置场效电晶体用以经由第一时程中之复置电晶体及共同输出线路施加复置电压至光电二极体;响应于定时器之一存取场效电晶体用以启动跟随在该第一时程后面之第二时程中之源极输出电路因而可在第一时程期间经由共同输出线路施加复置电压及可在第二时程期间于共同输出线路上提供输出信号。14.如申请专利范围第11项之阵列,其中来自多个该影像元件感测器电路之源极输出电路则驱动输出信号至一由该等感测器电路所共用之共同输出线路上,该阵列再包括:一响应于定时器之复置开关电路用以在第一时程中施加复置电压至共同输出线路;响应于定时器之该复置场效电晶体用以在第一时程期间自共同输出线路施加复置电压至光电二极体;响应于定时器之一存取场效电晶体用以启动跟随于第一时程后面之第二时程中之源极输出电路因而可在第一时程期间经由共同输出线路施加复置电压及可在第二时程期间于共同输出线路上提供输出信号。15.如申请专利范围第14项之阵列,其中:该定时器循环地重复启动复置电路及复置电晶体及启动源极输出电路以提供多个连续测试循环;该复置电压源则供给不同测试电每个测试循环。16.如申请专利范围第14项之阵列,其中该复置开关电路包括:一与一n-通道场效电晶体并联之p-通道场效电晶体以提供一开关以施加一满标度之测试电压至共同输出线路而不管通过p-通道场效电晶体及n-通道场效电晶体之电压降。17.一种用以测试一影像元件感测器电路之方法,包括下列步骤:施加一第一供电电压至该影像元件感测器电路;施加一第二测试电压至该影像元件感测器电路之一复置电路;及定期启动该复置电路。18.一种用于测试感测器电路而无需照明光敏装置之方法,在包括多个感测器电路及光敏装置之一影像感测器阵列中,此种用以测试该电路而无需照明该光敏装置之方法,包括施加一可变电压至诸感测器之至少一个之步骤。19.如申请专利范围第18项之方法,其中该可变电压系施加至该感测器电路之一复置电路。20.如申请专利范围第19项之方法,其中复置电路系予以定期启动。图式简单说明:第一图例示一习用影像阵列聚焦平面扫描器及此一阵列中之一影像元件感测器电路。第二图系本发明之一较佳具体实例之一概略图,在其中可控制之测试电压系施加至复置FET以逆偏压光电二极体。第三图系一具有其行线路之影像元件感测器电路之概略图,在其中控制测试电压系施加至行线路及复置电晶体。第四图系一例示用于第二图及第三图中之复置及列存取信号之间之相对定时之定时图。第五图系一产生复置及列取存信号之定时器之逻辑之概略图。 |
