| 发明名称 |
CIRCUIT AND METHOD FOR SIGNAL GENERATION AND BIT ERROR RATE TEST WITH USING DIGITAL SIGNAL PROCESSOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100241900(B1) |
申请公布日期 |
2000.02.01 |
| 申请号 |
KR19970033871 |
申请日期 |
1997.07.19 |
| 申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. |
发明人 |
OH, JAE-CHAN |
| 分类号 |
H04L12/24;(IPC1-7):H04L12/24 |
主分类号 |
H04L12/24 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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