| 发明名称 |
TEST APPARATUS FOR WIDE-BANDWIDTH MEMORIES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100244506(B1) |
申请公布日期 |
2000.02.01 |
| 申请号 |
KR19970063103 |
申请日期 |
1997.11.26 |
| 申请人 |
HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD. |
发明人 |
KIM, HA-SOO |
| 分类号 |
G11C29/00;G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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