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Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zum Speichern der mit einer BIST-Schaltung (7) erhaltenen Testerergebnisse von einem eine Speichervorrichtung (2, 3, 4, 5) aufweisenden Halbleiterchip (1). Diese Testergebnisse werden in den Leseverstärkern (6) der Speichervorrichtung (2, 3, 4, 5) selbst abgespeichert, in welchen auch Testprogramme für die BIST-Schaltung (7) abgelegt werden können.
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